A diffraction adapter for the electron microscope

被引：10

作者：

Hillier, J ^{[1
]}

Baker, RF ^{[1
]}

Zworykin, VK ^{[1
]}

机构：

[1] RCA Mfg Co, Res Labs, Camden, NJ USA

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1942年 / 13卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1714911

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：571 / 577

页数：7

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共 3 条

[1]

HILLIER J, 1941, P IRE, V29, P167

[2]

RINN H, 1938, IND ENG CHEM, V10, P457

[3]

VANCE AW, 1941, RCA REV, V5, P293