BALANCED PROBE EXTENDS HIGH-FREQUENCY MEASUREMENTS

被引：1
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作者：
SMITH, DC
机构：
[1] AT&T Bell Laboratories, Middletown, NJ
来源：
IEEE CIRCUITS AND DEVICES MAGAZINE | 1994年 / 10卷 / 06期
关键词：
Balanced coaxial probe;
D O I：
10.1109/101.329929
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
[No abstract available]
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