SEMICONDUCTOR-LASER ANALYSIS - GENERAL-METHOD FOR CHARACTERIZING DEVICES OF VARIOUS CROSS-SECTIONAL GEOMETRIES

被引:36
作者
SHORE, KA [1 ]
ROZZI, TE [1 ]
INTVELD, GH [1 ]
机构
[1] EINDHOVEN UNIV TECHNOL,DEPT MATH,EINDHOVEN,NETHERLANDS
来源
IEE PROCEEDINGS-I COMMUNICATIONS SPEECH AND VISION | 1980年 / 127卷 / 05期
关键词
Compendex;
D O I
10.1049/ip-i-1.1980.0046
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
LASERS, SEMICONDUCTOR
引用
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页码:221 / 229
页数:9
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