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X-RAY DIFFRACTION PATTERNS FOR THE IDENTIFICATION OF CRYSTALLINE CONSTITUENTS OF EXPLOSIVES
被引:32
作者
:
SOLDATE, AM
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0
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0
h-index:
0
SOLDATE, AM
NOYES, RM
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0
NOYES, RM
机构
:
来源
:
ANALYTICAL CHEMISTRY
|
1947年
/ 19卷
/ 07期
关键词
:
D O I
:
10.1021/ac60007a004
中图分类号
:
O65 [分析化学];
学科分类号
:
070302 ;
081704 ;
摘要
:
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页码:442 / 444
页数:3
相关论文
共 1 条
[1]
Chemical analysis by x-ray diffraction - Classification and use of x-ray diffraction patterns
Hanawalt, JD
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Hanawalt, JD
Rinn, HW
论文数:
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Rinn, HW
Frevel, LK
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0
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0
机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Frevel, LK
[J].
INDUSTRIAL AND ENGINEERING CHEMISTRY-ANALYTICAL EDITION,
1938,
10
: 0457
-
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共 1 条
[1]
Chemical analysis by x-ray diffraction - Classification and use of x-ray diffraction patterns
Hanawalt, JD
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Hanawalt, JD
Rinn, HW
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0
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Rinn, HW
Frevel, LK
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0
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机构:
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Dow Chem Co, Midland, MI USA
Frevel, LK
[J].
INDUSTRIAL AND ENGINEERING CHEMISTRY-ANALYTICAL EDITION,
1938,
10
: 0457
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