MESSUNG DER ABSOLUTEN UBERGANGSWAHRSCHEINLICHKEITEN EINIGER SILIZIUM-I-SOWIE, SILIZIUM-II-SOWIE EINIGER CHLOR-I-LINIEN UND CHLOR-II-LINIEN

被引：40
作者：
HEY, P
机构：
来源：
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK | 1959年 / 157卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1007/BF01375151
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
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页码：79 / 88
页数：10
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