MEASUREMENT OF DIELECTRIC PARAMETERS AT MICROWAVE-FREQUENCIES BY CAVITY-PERTURBATION TECHNIQUE

被引：82
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作者：
PARKASH, A
VAID, JK
MANSINGH, A
机构：
[1] UNIV DELHI,HINDU COLL,DELHI 110007,INDIA
[2] UNIV DELHI,DEPT PHYS & ASTROPHYS,DELHI 110007,INDIA
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES | 1979年 / 27卷 / 09期
关键词：
D O I：
10.1109/TMTT.1979.1129731
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页数：5
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