REALISTIC BUILT-IN SELF-TEST FOR STATIC RAMS

被引：14
作者：
DEKKER, R [1 ]
BEENKER, F [1 ]
THIJSSEN, L [1 ]
机构：
[1] DELFT UNIV TECHNOL,DEPT ELECT ENGN,DELFT,NETHERLANDS
来源：
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1989年 / 6卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1109/54.20387
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：26 / 34
页数：9
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共 11 条
  • [1] BEENKER FPM, 1986, IEEE DESIGN TEST DEC, P26
  • [2] DEKKER R, 1988, SEP P IEEE INT TEST, P343
  • [3] DEKKER R, 1987, THESIS DELFT U TECHN
  • [4] FERGUSON J, 1988, IEEE T COMPUTER NOV, P1181
  • [5] JAIN S, 1986, IEEE DESIGN TEST OCT, P27
  • [6] SALUJA KK, 1987, IEEE DES TEST COMPUT, P42
  • [7] SMITH JE, 1980, IEEE T COMPUT, V29, P510, DOI 10.1109/TC.1980.1675610
  • [8] SRIDHAR T, 1986, IEEE DESIGN TEST AUG, P15
  • [9] WANG L, 1986, 8617 STANF U CTR REL
  • [10] WING O, 1985, IEEE T COMPUTER AIDE, V4
12