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CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL LAYERS BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY ON WEDGE SHAPED SAMPLES
被引：0
作者：
BUFFAT, PA
GANIERE, JD
SPYCHER, R
机构：
来源：
VIDE-SCIENCE TECHNIQUE ET APPLICATIONS
|
1990年
/
45卷
/
251期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TB3 [工程材料学];
学科分类号：
0805 ;
080502 ;
摘要：
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页数：2
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