CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL LAYERS BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY ON WEDGE SHAPED SAMPLES

被引:0
作者
BUFFAT, PA
GANIERE, JD
SPYCHER, R
机构
来源
VIDE-SCIENCE TECHNIQUE ET APPLICATIONS | 1990年 / 45卷 / 251期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
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页码:131 / 132
页数:2
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