SMART AND FAST - TEST-GENERATION FOR VLSI SCAN-DESIGN CIRCUITS

被引：24

作者：

ABRAMOVICI, M

KULIKOWSKI, JJ

MENON, PR

MILLER, DT

机构：

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1986年 / 3卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1986.294975

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：43 / 54

页数：12

共 20 条

[1] CRITICAL PATH TRACING - AN ALTERNATIVE TO FAULT SIMULATION [J].

ABRAMOVICI, M ;

MENON, PR ;

MILLER, DT .

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