INTERFACE ROUGHNESS AND PERIOD VARIATIONS IN MQW STRUCTURES DETERMINED BY X-RAY-DIFFRACTION

被引：60
作者：
FEWSTER, PF
机构：
来源：
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | 1988年 / 21卷
关键词：
D O I：
10.1107/S0021889888006569
中图分类号：
O6 [化学];
学科分类号：
0703 ;
摘要：
引用
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页码：524 / 529
页数：6
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共 12 条
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