共 2 条
[1]
BRAUER JB, 1970, 1970 REL PHYS S LAS
[2]
HAKIM EB, 1969 INT EL CIRC PAC, V10
FIELD RELIABILITY OF PLASTIC ENCAPSULATED TRANSISTORS AND INTEGRATED CIRCUITS
被引：2
作者：
REICH, B
HAKIM, EB
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
|
1971年
/
10卷
/
06期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(71)90104-1
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：461 / &
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