TEST OF A QUANTITATIVE APPROACH TO SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY ON GLASS AND SILICATE STANDARDS

被引：64

作者：

MORGAN, AE ^{[1
]}

WERNER, HW ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

关键词：

D O I：

10.1021/ac50015a015

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：927 / 931

页数：5

共 18 条

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