SIMPLE METHOD FOR CALCULATING OPTICAL-PROPERTIES OF MULTILAYER-DIELECTRIC REFLECTORS

被引：11

作者：

SPARKS, M ^{[1
]}

机构：

[1] XONICS INC,SANTA MONICA,CA 90401

来源：

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.67.001590

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1590 / 1594

页数：5

共 13 条

[1]

[Anonymous], COMMUNICATION

BAUMEISTER, P ;

ARNON, O .

APPLIED OPTICS, 1977, 16 (02) :439-444

[3] PRECISE METHOD FOR MEASURING ABSOLUTE PHASE CHANGE ON REFLECTION [J].

BENNETT, JM .

[4]

Dufour C., 1952, REV OPT, V31, P1

[5]

FLANNERY MR, UNPUBLISHED

[6]

Goodman J. W., 1968, INTRO FOURIER OPTICS, P3

[7]

Heavens O.S, 1955, OPTICAL PROPERTIES T

[8]

KOPPELMANN G, 1960, ANN PHYS, V7, P388

[9] OPTICAL APPLICATIONS OF DIELECTRIC THIN FILMS [J].

LISSBERG.PH .

RANK, DH ;

BENNETT, HE .