SILICON SOLAR-CELL DAMAGE FROM ELECTRICAL OVERSTRESS

被引：0

作者：

PEASE, RL ^{[1
]}

BARNUM, JR ^{[1
]}

VULLIET, WG ^{[1
]}

VANLINT, VAJ ^{[1
]}

WROBEL, TF ^{[1
]}

机构：

[1] MISSION RES CORP,5434 RUFFIN RD,SAN DIEGO,CA 92123

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1982年 / 29卷 / 06期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1526 / 1532

页数：7

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共 8 条

[1]

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