AUGER RECOMBINATION IN CD0.2HG0.8TE AND THE EFFECT OF BACKGROUND-RADIATION ON ITS MEASUREMENT

被引：10

作者：

BEATTIE, AR

机构：

[1] Univ Coll, Cardiff, Wales, Univ Coll, Cardiff, Wales

来源：

SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY | 1987年 / 2卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1088/0268-1242/2/5/006

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

20

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页码：281 / 287

页数：7

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