APPLICATIONS OF HIGH-RESOLUTION INSITU ELECTRON-MICROSCOPY TO MATERIALS SCIENCE

被引：0

作者：

SAKA, H ^{[1
]}

机构：

[1] NAGOYA UNIV,FAC ENGN,DEPT MET,NAGOYA,AICHI 464,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1988年 / 37卷 / 02期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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