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被引:0
作者
BABA, N
KOKUBO, Y
ENDOH, H
机构
[1] JEOL LTD, AKISHIMA, TOKYO 196, JAPAN
[2] OSAKA UNIV, OSAKA, JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1989年 / 38卷
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页码:S30 / S36
页数:7
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