JOINT SPECIAL ISSUE ON DESIGN FOR TESTABILITY - INTRODUCTION

被引：0

作者：

GOLDSTEIN, LH ^{[1
]}

WILLIAMS, TW ^{[1
]}

机构：

[1] INMOS CORP,COLORADO SPRINGS,CO

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1981年 / 28卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1981.1084925

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：2