FAST TEST-GENERATION FOR SEQUENTIAL-CIRCUITS

被引：0

作者：

KELSEY, TP

SALUJA, KK

机构：

来源：

1989 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER-AIDED DESIGN: DIGEST OF TECHNICAL PAPERS | 1989年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：4