THE MEASUREMENT OF ALPHA-PARTICLE EMISSIONS FROM SEMICONDUCTOR MEMORY MATERIALS

被引：13

作者：

BOULDIN, DP

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1007/BF02660131

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：747 / 795

页数：49

相关论文

共 24 条

[1]

BOUDIN DP, 1980, RADIOELEMENT ANAL PR

[2]

BOULDIN DP, UNPUBLISHED

[3]

Chu WK., 1978, BACKSCATTERING SPECT

[4]

DESOETE D, 1972, NEUTRON ACTIVATION A

[5]

FLEISCHER RL, 1975, NUCLEAR TRACKS SOLID

[6]

GEORGE AC, P NATURAL RAD ENV, V2

[7]

HALLDEN, 1960, ANALYT CHEMISTRY, V32, P1861

[8]

HUGHES GW, 1979, SOLID STATE TECH JUL, P7

[9]

JONAS M, 1971, APPLIED OPTICS, V11, P2436

[10]

Kruger P., 1971, PRINCIPLES ACTIVATIO