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ELECTRON AND OPTICAL BEAM TESTING OF INTEGRATED-CIRCUITS - PREFACE
被引：0
作者：
MELGARA, M
WOLFGANG, E
COURTOIS, B
FANTINI, F
机构：
关键词：
D O I：
10.1016/0167-9317(92)90316-J
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：R7 / R7
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