A DESIGN OF PROGRAMMABLE LOGIC-ARRAYS WITH UNIVERSAL TESTS

被引:6
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作者
FUJIWARA, H
KINOSHITA, K
机构
[1] OSAKA UNIV,DEPT ELECTR ENGN,OSAKA,JAPAN
[2] HIROSHIMA UNIV,DEPT INFORMAT & BEHAV SCI,HIROSHIMA 730,JAPAN
来源
关键词
D O I
10.1109/TCS.1981.1084932
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:1027 / 1032
页数:6
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