A FRICTIONAL FORCE MICROSCOPE CONTROLLED WITH AN ELECTROMAGNET

被引：22

作者：

KANEKO, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1988.tb01397.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：363 / 369

页数：7

相关论文

共 2 条

KANEKO, R ;

NONAKA, K ;

YASUDA, K .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A, 1988, 6 (02) :291-292

[2] ATOMIC-SCALE FRICTION OF A TUNGSTEN TIP ON A GRAPHITE SURFACE [J].

MATE, CM ;

MCCLELLAND, GM ;

ERLANDSSON, R ;

CHIANG, S .