DOUBLE EXPOSURE MOIRE DEFLECTOMETRY FOR REMOVING NOISE

被引：13
作者：
KAFRI, O
MARGALIT, E
机构：
来源：
APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 14期
关键词：
D O I：
10.1364/AO.20.002344
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
摘要：
引用
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页码：2344 / 2345
页数：2
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共 4 条
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