THE RESOLVING POWER OF A LOW-ENERGY ELECTRON DIFFRACTOMETER AND THE ANALYSIS OF SURFACE-DEFECTS

被引：68

作者：

LU, TM

LAGALLY, MG

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(80)90563-4

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：695 / 713

页数：19

共 36 条

[1] LASER SIMULATION OF LEED PATTERNS [J].

CAMPBELL, BD ;

ELLIS, WP .

[2] COHERENCE LENGTH AND-OR TRANSFER WIDTH [J].

COMSA, G .

[3]

COMSA G, COMMUNICATION

[4] LEED STUDIES OF THORIUM ADSORPTION ON TUNGSTEN [J].

ESTRUP, PJ ;

ANDERSON, J ;

DANFORTH, WE .

[5] SURFACE STUDIES BY ELECTRON DIFFRACTION [J].

ESTRUP, PJ ;

MCRAE, EG .

[6]

ESTRUP PJ, 1970, MODERN DIFFRACTION I

[7]

Fink M., 1970, Atomic Data, V1, P385

[8]

FINK M, 1972, ATOM DATA, V4, P1

[9]

FRANKL DR, 1980, SURFACE SCI, V97, P365

[10]

Guinier A, 1952, XRAY CRYSTALLOGRAPHI