A STUDY OF RADIATION-DAMAGE IN THIN SIO2 LAYERS WITH TSEE AND IR TECHNIQUES

被引：2
作者：
WILD, W
GLAEFEKE, H
FITTING, HJ
机构：
来源：
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1980年 / 62卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1002/pssa.2210620258
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：K159 / K161
页数：3
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共 4 条
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