THE PROJECTION TOPOGRAPH - A NEW METHOD IN X-RAY DIFFRACTION MICRORADIOGRAPHY

被引：466
作者：
LANG, AR
机构：
来源：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA | 1959年 / 12卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1107/S0365110X59000706
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
摘要：
引用
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页码：249 / 250
页数：2
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共 3 条
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