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GROWTH AND CHARACTERIZATION OF ULTRA-THIN EPITAXIAL SILICON FILMS
被引:0
作者
:
YIM, EW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YIM, EW
机构
:
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1970年
/ 117卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:C261 / &
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