TRANSMISSION STAGE FOR SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：15
作者：
WOOLF, RJ
TANSLEY, DW
JOY, DC
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1972年 / 5卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1088/0022-3735/5/3/013
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
引用
收藏
页码：230 / &
相关论文
共 8 条
[1]  
Grigson CWB, 1962, J ELECTRON CONTR, V12, P209
[2]  
HIRSCH PB, 1965, ELECTRON MICROSCOPY, P453
[3]  
JOY DC, 1971, 25TH P ANN M EMAG I, P316
[4]  
KIMOTO S, 1968, 1968 P SCANN EL MICR, P63
[5]   SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY WITH CAMBRIDGE STEREOSCAN MK-2 [J].
SWIFT, JA ;
BROWN, AC ;
SAXTON, CA .
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1969, 2 (08) :744-&
[6]  
van Essen C G, 1970, Nature, V225, P847, DOI 10.1038/225847a0
[7]   SOME MODIFICATIONS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN ELECTRON CHANNELLING PATTERNS OBSERVATION [J].
VICARIO, E ;
PITAVAL, M ;
UZAN, R .
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1970, 3 (04) :323-&
[8]  
WOOLF RJ, 1971, 25 P ANN M EMAG LOND, P34
1