X-RAY DOUBLE CRYSTAL TOPOGRAPHIC ASSESSMENT OF DEFECTS IN QUARTZ RESONATORS

被引：0

作者：

BYE, KL ^{[1
]}

COSIER, RS ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,REDHILL,SURREY,ENGLAND

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1978年 / 34卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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页码：S250 / S250

页数：1

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