SOYBEAN SEED-COAT STRUCTURAL FEATURES - PITS, DEPOSITS AND CRACKS

被引：0
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作者：
WOLF, WJ
BAKER, FL
BERNARD, RL
机构：
[1] UNIV ILLINOIS,USDA SEA,URBANA,IL 61801
[2] UNIV ILLINOIS,DEPT AGRON,URBANA,IL 61801
来源：
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY | 1981年
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
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页码：531 / 544
页数：14
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共 50 条
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