A RESOLUTION TEST OF SEM AND STRUCTURAL-ANALYSES FROM SEM IMAGES BY MEANS OF DIGITAL PROCESSING METHODS

被引：0

作者：

OHO, E ^{[1
]}

KANAYA, K ^{[1
]}

机构：

[1] KOGAKUIN UNIV,DEPT ELECT ENGN,SHINJUKU KU,TOKYO 160,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1982年 / 31卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：328 / 328

页数：1

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