SMALL-ANGLE X-RAY-SCATTERING STUDY OF THE FRACTAL MORPHOLOGY OF POROUS SILICAS

被引：31
作者：
SCHMIDT, PW
HOHR, A
NEUMANN, HB
KAISER, H
AVNIR, D
LIN, JS
机构：
[1] HEBREW UNIV JERUSALEM,F HABER RES CTR MOLEC DYNAM,IL-91904 JERUSALEM,ISRAEL
[2] HEBREW UNIV JERUSALEM,DEPT ORGAN CHEM,IL-91904 JERUSALEM,ISRAEL
[3] OAK RIDGE NATL LAB,NATL CTR SMALL ANGLE SCATTERING RES,OAK RIDGE,TN 37831
来源：
JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS | 1989年 / 90卷 / 09期
关键词：
D O I：
10.1063/1.456544
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
摘要：
引用
收藏
页码：5016 / 5023
页数：8
相关论文
共 65 条
1234567