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DOUBLE RESOLUTION WITH A SISAM SPECTROMETER
被引:6
作者
:
DUPRE, J
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DUPRE, J
PINSON, P
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MEYER, C
BARCHEWITZ, P
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BARCHEWITZ, P
机构
:
来源
:
APPLIED OPTICS
|
1971年
/ 10卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1364/AO.10.001177
中图分类号
:
O43 [光学];
学科分类号
:
070207 ;
0803 ;
摘要
:
引用
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页码:1177 / +
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相关论文
共 4 条
[1]
CONNES P, 1958, THESIS PARIS
[2]
ABSOLUTE STANDARDIZATION OF A SISAM SPECTROMETER
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APPLIED OPTICS,
1970,
9
(07)
:1587
-+
[3]
GRANER G, 1965, THESIS PARIS
[4]
MEASUREMENT OF INTERFEROMETRIC SECONDARY WAVELENGTH STANDARDS IN THE NEAR INFRARED
[J].
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JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA,
1956,
46
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:477
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[1]
CONNES P, 1958, THESIS PARIS
[2]
ABSOLUTE STANDARDIZATION OF A SISAM SPECTROMETER
[J].
FARRENQ, R
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BARCHEWITZ, P
.
APPLIED OPTICS,
1970,
9
(07)
:1587
-+
[3]
GRANER G, 1965, THESIS PARIS
[4]
MEASUREMENT OF INTERFEROMETRIC SECONDARY WAVELENGTH STANDARDS IN THE NEAR INFRARED
[J].
RANK, DH
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RANK, DH
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;
BENNETT, HE
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BENNETT, HE
.
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA,
1956,
46
(07)
:477
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