OPTICAL MEASUREMENT OF FILM GROWTH ON SILICON AND GERMANIUM SURFACES IN ROOM AIR

被引：203

作者：

ARCHER, RJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1149/1.2428428

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

页码：619 / 622

页数：4

共 9 条

DITCHBURN, RW .

[2]

DRUDE P, 1889, WIED ANN, V36, P865

[3]

DRUDE P, 1890, WIED ANN, V39, P481

[4]

DRUDE P, 1889, WIED ANN, V36, P532

[5]

Elovich S.Y., 1939, J PHYS CHEM-US, V13, P1775

[6]

GREEN M, 1955, PHYS REV, V98, P1566

[7]

Heavens O. S., 1955, OPTICAL PROPERTIES T

[8] An optical investigation of oxide films on metals [J].

Leberknight, CE ;

Lustman, B .

WINTERBOTTOM, AB .