共 1 条
[1]
BIERLEIN TK, 1958, 2ND GEN C
ELECTRON MICROSCOPE STUDIES OF DAMAGE IN IRRADIATED URANIUM DIOXIDE
被引：9
作者：
NEWKIRK, HW
DANIEL, JL
MASTEL, B
机构：
关键词：
D O I：
10.1016/0022-3115(60)90061-1
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
收藏
页码：269 / 273
页数：5
相关论文