RELIABILITY OF AUGE-PT AND AUGE-NI OHMIC CONTACTS ON GAAS

被引：16

作者：

LEE, CP

WELCH, BM

FLEMING, WP

机构：

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1981年 / 17卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19810283

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：407 / 408

页数：2

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共 4 条

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