PHOTO-SCANNING OF CDTE DETECTORS FOR INVESTIGATION OF CRYSTAL QUALITY AND CONTACT-BEHAVIOR

被引：2

作者：

TOVE, PA ^{[1
]}

SLAPA, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV UPPSALA, INST TECHNOL, DEPT ELECTR, UPPSALA, SWEDEN

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1977年 / 12卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:01977001202034900

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：349 / 353

页数：5

共 5 条

[1]

MCMAHON RE, 1971, ELECTRONICS, V44, P92

[2] A FLYING-SPOT SCANNER [J].

POTTER, CN ;

SAWYER, DE .

SCHULER, W .

[4] POLARIZATION IN CADMIUM TELLURIDE NUCLEAR RADIATION DETECTORS [J].

SIFFERT, P ;

BERGER, J ;

SCHARAGER, C ;

CORNET, A ;

STUCK, R ;

BELL, RO ;

SERREZE, HB ;

WALD, FV .

TIHANYI, J ;

PASZTOR, G .