SELF-EXERCISING CHECKERS FOR UNIFIED BUILT-IN SELF-TEST (UBIST)

被引：26
作者：
NICOLAIDIS, M
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS | 1989年 / 8卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1109/43.21840
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
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页码：203 / 218
页数：16
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