NEW METHOD FOR DETERMINATION OF THICKNESS AND REFRACTIVE INDEX OF THIN DIELECTRIC FILMS EVAPORATED ON METAL SUBSTRATES

被引：9
作者：
SHKLYAREVSKII, IN
ELSHAZLY, AF
IDCZAK, E
机构：
来源：
SOLID STATE COMMUNICATIONS | 1971年 / 9卷 / 20期
关键词：
D O I：
10.1016/0038-1098(71)90307-3
中图分类号：
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号：
070205 ;
摘要：
引用
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页码：1737 / +
页数：1
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共 4 条
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