MINORITY-CARRIER LIFETIME MAPPING IN THE SEM

被引：5

作者：

STECKENBORN, A

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1980年 / 118卷 / MAR期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1980.tb00276.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：297 / 302

页数：6

共 9 条

[1] PHOTON COUNTING APPARATUS FOR KINETIC AND SPECTRAL MEASUREMENTS [J].

BACHRACH, RZ .

[2]

BALK LJ, 1975, IITRI P SCANNING E 1, P447

[3]

BLAKEMORE JS, 1962, SEMICONDUCTOR STATIS

[4]

BLUDAU W, 1976, APPL PHYS LETT, V29, P204, DOI 10.1063/1.88994

[5]

BRESSE JF, 1976, J MICROSC SPECT ELEC, V1, P539

[6] DOPING DEPENDENCE OF HOLE LIFETIME IN TYPE GAAS [J].

HWANG, CJ .

KAMM, JD ;

BERNT, H .

[8]

RASUL A, 1977, INST PHYS C SER, P306

[9] MEASUREMENT OF DIFFUSION LENGTH IN SOLAR CELLS [J].

REYNOLDS, JH ;

MEULENBERG, A .