HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY OF SURPENTINE (III)

被引：0

作者：

TANJI, T ^{[1
]}

YADA, K ^{[1
]}

机构：

[1] TOHOKU UNIV,SCI MEASUREMENT RES INST,SENDAI,MIYAGI 980,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1980年 / 29卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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页数：1

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