COMPUTER-SIMULATION OF SEM ELECTRON-BEAM INDUCED CURRENT IMAGES OF DISLOCATIONS AND STACKING-FAULTS

被引：44

作者：

DONOLATO, C

KLANN, H

机构：

[1] Max-Planck-Institut für Festkörperforschung, 7000 Stuttgart 80, Germany

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.327767

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1624 / 1633

页数：10

共 29 条

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