SEMICONDUCTOR INSTABILITY FAILURE MECHANISMS REVIEW

被引：31
作者：
LYCOUDES, NE
CHILDERS, CC
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1980年 / 29卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1109/TR.1980.5220810
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
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页码：237 / 249
页数：13
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