Surface replicas for use in the electron microscope

被引：94

作者：

Schaefer, VJ ^{[1
]}

Harker, D ^{[1
]}

机构：

[1] Gen Elect Co, Res Lab, Schenectady, NY USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1714890

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：427 / 433

页数：7

共 8 条

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