X-RAY ANALYSIS - ELEMENTAL TRACE ANALYSIS AT 10-12G LEVEL

被引：453
作者：
JOHANSSON, TB
AKSELSSON, R
JOHANSSON, SA
机构：
来源：
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1970年 / 84卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1016/0029-554X(70)90751-2
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
引用
收藏
页码：141 / +
页数：1
相关论文
共 5 条
[1]   APPLICATION OF HIGH-RESOLUTION SEMICONDUCTOR DETECTORS IN X-RAY EMISSION SPECTROGRAPHY [J].
BOWMAN, HR ;
HYDE, EK ;
THOMPSON, SG ;
JARED, RC .
SCIENCE, 1966, 151 (3710) :562-&
[2]   ATOMIC FLUORESCENCE YIELDS [J].
FINK, RW ;
JOPSON, RC ;
MARK, H ;
SWIFT, CD .
REVIEWS OF MODERN PHYSICS, 1966, 38 (03) :513-&
[3]  
KAELBLE EF, 1967, HANDBOOK XRAYS
[4]  
MERZBACHER E, 1958, HANDBUCH PHYSIK, V34
[5]   K-SHELL IONIZATION BY PROTONS [J].
MESSELT, S .
NUCLEAR PHYSICS, 1958, 5 (03) :435-446
1