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- [6] BEHALTEN DIE ZWISCHEN DEM 13.3.38 UND 8.5.45 IN WIEN ERTEILTEN PATENTE UBER DEN 30.6.50 HINAUS IHRE GULTIGKEIT ANGEWANDTE CHEMIE, 1949, 61 (11): : 453 - 453
- [10] Zwischen Profilometer und Rasterkraftmikroskop F & M; Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik, 1997, 105 (7-8):