IMAGING IN SCANNING MICROSCOPES

被引:28
作者
CREWE, AV [1 ]
机构
[1] UNIV CHICAGO,ENRICO FERMI INST,CHICAGO,IL 60637
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(80)90018-2
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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