2 SIMPLE METHODS FOR THE MEASUREMENT OF THE DIELECTRIC PERMITTIVITY OF LOW-LOSS MICROSTRIP SUBSTRATES

被引:16
作者
PANNELL, RM [1 ]
JERVIS, BW [1 ]
机构
[1] PLYMOUTH POLYTECH,DEPT COMMUN ENGN,PLYMOUTH PL4 8AA,DEVONSHIRE,ENGLAND
关键词
D O I
10.1109/TMTT.1981.1130362
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页数:4
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