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APPLICATION OF IMAGING PLATES IN OBSERVING CONVERGENT-BEAM ELECTRON-DIFFRACTION PATTERNS
被引：0
作者：
TSUDA, K
TANAKA, M
OIKAWA, T
机构：
[1] TOHOKU UNIV,SCI MEAS RES INST,SENDAI,MIYAGI 980,JAPAN
[2] JEOL LTD,AKISHIMA 196,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1991年
/
40卷
/
04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：279 / 279
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